Ламинография

Данный метод позволяет контролировать качество сложных, многослойных образцов (например, печатных плат) без их разрушения: в заданной области создаются виртуальные срезы и выявляются дефекты (например, HoP, непропаи, трещины) порой скрытые при 2D-инспекции. Рентгеноскопическая система XT V 160 обеспечивает полностью автоматизированный сбор данных, обработку изображений и создание детализированных отчетов о результатах проверки изделия. Основное назначение рентгеноскопической системы XT V 160 с опцией X.TRACT (ламинографии) – контроль электроники, но этим возможности ее применения не ограничиваются.

Особенности инструмента X.TRACT:

подходит для исследования больших образцов (в соответствии с максимальной рабочей областью системы XT V 160 при весе образца не более 5 кг);
не требуется разрезать образец;
возможность выделения отдельного слоя из многослойных образцов;
поиск и отображение дефектов в высоком разрешении, их идентификация;
быстрое переключение между режимами радиографии и ламинографии.

Применение технологии X.TRACT:

создание виртуальных 3D-микрошлифов любой области образца без нарушения его целостности;
контроль ПП, микросхем;
просмотр отдельно взятой стороны образца;
просмотр отдельных слоев и элементов, расположенных на них;
определение размера и расположения пустот;
детальный контроль переходных отверстий, THT-пайки, разъёмов;
выявление коробления ПП.